6月22日，由國(guó)核自儀電站控制中心主導(dǎo)研制的“和?？刂啤保∟uCON N200）基礎(chǔ)版自動(dòng)測(cè)試裝置在測(cè)試驗(yàn)證中心的支持下，順利通過(guò)第三方CNAS實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)，結(jié)果符合設(shè)計(jì)要求，標(biāo)志著NuCON N200自動(dòng)測(cè)試裝置正式具備基礎(chǔ)I/O模塊卡件出廠入廠的質(zhì)檢投運(yùn)條件。
NuCON N200自動(dòng)測(cè)試裝置的自動(dòng)化程度高，一套裝置需要支持N200所有I/O模塊卡件（含三冗余），存在較大技術(shù)難度。同時(shí)，考慮到國(guó)產(chǎn)化替代項(xiàng)目出入庫(kù)質(zhì)檢的進(jìn)度需求，電站控制中心成立了專項(xiàng)攻關(guān)推進(jìn)小組，通過(guò)反復(fù)商討并不斷優(yōu)化問(wèn)題解決方案，努力克服疫情不利影響，攻關(guān)小組
